|
КРИСТАЛЛОГРАФИЯ, 1998, том 43, № 6, с. 1027-1036
УДК 548.73 ПЕРЕХОДНЫЕ СЛОИ В ПЛЕНКАХ ЛЕНГМЮРА-БЛОДЖЕТТ © 1998 г. П. П. Карагеоргиев, В. В. Карагеоргиева, В. В. Лучинин, А. 3. Казак-Казакевич Центр
микротехнологии и диагностики при
Санкт-Петербургском Поступила в редакцию 29.05.98 г. Методами дифракции быстрых электронов на отражение, атомно-силовой микроскопии и малоугловой рентгеновской дифрактометрии проведено исследование зависимости структуры ЛБ-пленок стеариновой кислоты от материала подложки, морфологии поверхности подложки, ионного состава субфазы и состояния монослоя на поверхности субфазы. Изучена эволюция структуры пленок при увеличении количества нанесенных монослоев (от одного до четырех). Установлена взаимосвязь между степенью искажения решетки пленок и характеристиками поверхности подложки (структура, тип и сила поверхностных центров). Обнаружен эффект упорядочения пленок при переносе монослоев на поверхность подложки в условиях воздействия ультрафиолетового излучения. Установлено, что встраивание в мультислои стеариновой кислоты алюминия и сурьмы приводит к трансформации ближнего молекулярного окружения в плоскости слоя с изменением типа локальной упаковки молекул.
Crystallography Reports, Vol. 43, No. 6, 1998, pp. 968-977. Translated from KriitaUografiya, Vol. 43, No. 6, 1998, pp. 1027-1036. Original Russian Text Copyright © /998 by Kara%ei>r)>iev. Kurageurgieva. Lucliinin, Kazak-Kazakevich. On the 50th anniversary of the foundation of the Electron Diffraction Laboratory Transition Layers in Langmuir-Blodgett Films P. P. Karageorgiev, V. V. Karageorgieva, V. V. Luchinin, Microtechnology Center, State Electrotechnical University, ul. Professora Popova 5, St. Petersburg, 197376 Russia Fax: +7-812-2341682, e-mail: root@meetu.spb.ru Received May 29,1998 Abstract --- The structure of LB films of stearic acid has been studied as a function of the material of the substrate, its surface morphology, die ionic composition of the subphase, and the state of a monolayer on the sub-phase surface by the methods of reflection high-energy electron diffraction (RHEED), atomic-force microscopy (AFM), and small-angle X-ray diffractometry. The evolution of the film structure with an increase in the number of deposited layers (from one to four) has been considered. The relationship between the distortion degree of the crystal lattice of the film and the characteristics of the substrate surface (the structure, the type and the strength of surface centers) has also been established. It is revealed that the transfer of a monolayer onto the substrate surface under ultraviolet irradiation is accompanied by film ordering. The incorporation of aluminum and antimony into the stearic acid multilayers results in the rearrangement of the short-range molecular environment in the layer plane with the simultaneous change of the type of the local molecular packing.
|
